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SOT23-8L芯片测试座socket—SOT23器件测试夹具

发表时间:2024-09-02 11:36:44浏览量:682

深圳谷易电子生产的SOT23-8L芯片测试座socket—SOT23器件测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍 适用SOT23-8L芯片测试环境:老化、测试、烧录,支持芯片性能测试、芯片可靠性测试、芯...

深圳谷易电子生产的SOT23-8L芯片测试座socket—SOT23器件测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用SOT23-8L芯片测试环境:老化、测试、烧录,支持芯片性能测试、芯片可靠性测试、芯片功能性测试

SOT23-8L芯片测试座socket产品简介:

芯片测试电流:单pin过流小于1A以内

芯片测试频率不做要求

芯片测试温度:-45°~+135°,持续老化测试工作时长:1000小时

芯片测试座结构:分离式压合

芯片测试夹具材料:PEEK