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LGA封装系列

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LGA79pin芯片合金翻盖测试座socket

发表时间:2023-07-07 11:47:52浏览量:1106

深圳谷易电子生产的LGA79pin芯片合金翻盖测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍 产品简介: 适用于LGA芯片测试、老化、烧录 LGA79pin封装芯片测试条件要求: 芯片测试频率:2Ghz ...

深圳谷易电子生产的LGA79pin芯片合金翻盖测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

产品简介:

适用于LGA芯片测试、老化、烧录

LGA79pin封装芯片测试条件要求:

芯片测试频率:2Ghz

芯片测试电流:500mA

芯片测试温度:-50°~80°

无其他测试要求

测试座结构:翻盖式

测试座材料:合金