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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座
发表时间：2024-11-18 11:14:49浏览量：737【小中大】
深圳谷易电子生产的LGA30pin射频器件测试座socket—LGA芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用于LGA30pin射频器件模拟电路测试环境：老化、测试、烧录、支持射频芯片可靠性测试、器件高性能测试、芯片功能性测试
LGA30pin芯片测试座产品简介：
器件测试频率：最高10Ghz
射频器件测试插损：小于1db，驻波比小于-15db
器件测试电流：630mA
我厂支持非标来图一件定制，提供完善的整套IC测试解决方案，并可提供类似案例参考，详询请联系客服
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