深圳谷易电子生产的LCC28pin封装芯片测试座socket_概述_性能_特点_规格_应用

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LCC28pin封装芯片测试座socket

发表时间：2023-04-21 10:03:29浏览量：1245【小中大】

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深圳谷易电子生产的LCC28pin封装芯片测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

LCC芯片测试座,LCC芯片老化座,LCC芯片烧录座

LCC28pin芯片测试条件要求：

测试温度：+175°

测试电流：单PIN在1A以内

测试频率：1000Mhz

测试座材料：合金

测试座结构：翻盖式