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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

LCC/CLCC封装

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LCC8pin芯片老化测试座socket—lcc芯片测试夹具

发表时间:2025-02-18 09:54:27浏览量:342

深圳谷易电子生产提供封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等,大量现货标准品,并支持一件定制。 深圳谷易电子生产的LCC...

深圳谷易电子生产提供封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等,大量现货标准品,并支持一件定制。

深圳谷易电子生产的LCC8pin芯片老化测试座socket—lcc芯片测试夹具的产品简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家介绍

产品介绍: 
产品名称:LCC8pin-1.27mm-3.8×3.8mm芯片翻盖老化测试座socket 
使用用途:对LCC8pin芯片进行模拟电路测试、性能测试用,支持芯片功能性测试、芯片可靠性测试 
性能参数:温度:-50~150度   hast 130℃,85湿度