深圳谷易电子生产的WLCSP36pin晶振测试座socket_概述_性能_特点_规格_应用

深圳市谷易电子有限公司欢迎您！

热搜关键词： 微针模组、BGA、DDR、SOP/TSOP、QFP、TO封装系列

深圳市谷易电子有限公司

联系电话：13823541376

联系人：兰小姐

邮箱：sales@goodesocket.com

主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

WLCSP /CSP封装

当前位置：首页 > 产品中心 > WLCSP /CSP封装

WLCSP36pin晶振测试座socket

发表时间：2023-10-12 16:47:38浏览量：903【小中大】

深圳谷易电子生产的WLCSP36pin晶振测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍适用WLCSP36pin晶振测试环境：老化、烧录、测试 WLCSP36pin晶振测试座产品简介：晶振测试温度：-4...

深圳谷易电子生产的WLCSP36pin晶振测试座socket的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用WLCSP36pin晶振测试环境：老化、烧录、测试

WLCSP36pin晶振测试座产品简介：

晶振测试温度：-40°~+125°，持续测试时长：1000小时

晶振测试电流：1A

晶振测试频率：100Mhz

晶振测试电压：小于10V

晶振测试座结构：翻盖式

晶振测试座材料：塑胶