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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

模块测试座

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邮票孔模块18pin-1.1 mm翻盖探针测试座-邮票孔模块测试座socket

发表时间:2026-01-19 17:49:39浏览量:125

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深圳谷易电子生产的邮票孔模块18pin-1.1 mm翻盖探针测试座-邮票孔模块测试座socket的产品简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家介绍

深圳谷易电子生产提供封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/OFP/OFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/Connector/IMU socket
等,大量现货标准品,并支持一件定制

产品介绍:

产品名称:定制邮票孔模块18pin-1.1 (10.1*9.7)mm翻盖探针测试座

使用用途:对邮票孔模块18pin器件进行模拟电路测试、性能测试用,支持模块功能性测试、芯片可靠性测试

性能参数:有一个射频脚(第11脚),射频信号2G,插损<1dB,回损<-10dB,其余引脚普通频率1G以内即可,电流1A以内,温度常温