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IC/芯片测试治具

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定制BGA1264pin-0.4mm芯片测试治具-BGA芯片Test Fixture

发表时间:2026-09-03 09:10:53浏览量:98

 定制BGA1264-0.4  35x24间距合金翻盖旋钮测试治具 

 深圳谷易电子生产的BGA1264pin-0.4mm芯片测试治具-BGA芯片Test Fixture的产品简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家介绍

厂家介绍:

产品名称:定制BGA1264-0.4  35x24间距合金翻盖旋钮测试治具 

使用用途:对BGA1264pin芯片进行模拟电路测试、性能测试使用,支持芯片功能性测试、芯片可靠性测试

性能参数:频率1Ghz