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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座
202209/23
芯片老化试验的最终目的是预测产品的使用寿命,评估或预测制造商生产的产品的耐久性;随着半导体技术的快速发展和芯片复杂性的逐年增加,芯片测试贯穿...
202209/08
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202208/31
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202208/30
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202208/25
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