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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

BGA封装系列

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BGA52-0.5(5*6)合金顶窗探针测试座

定制类型:QFN、DFN、集成模块、BGA等芯片的各种:测试座、老化座、测试治具、测试夹具、自动化设备等。
常见芯片:WIFI、互联网、传感器、车规芯片、电源芯片等。
PCB定制:可以提供通用转48pin双排针转接板、也可以根据需求定制,免费画板。
IC脚位间距:0.2、0.3、0.35、0.4、0.45、0.5、0.65、0.8、1.0、1.27、2.54mm等。
IC封装:QFN、QFP、BGA、DFN、传感器、晶振、电源芯片等(弹性结构,可兼容不同厚度)
高低温范围:常规-55°C~+180°C,更高温度可定制。
高低频率范围:常规1Ghz~5Ghz,更高频率可定制。
适用于:测试、烧录、老化、分析芯片。
使用寿命:普通测试、烧录10万次。(有更长可选用)
交期:普通交期3~5天,定制交期:7个工作日。


产品特点:

1、本品为下压结构合金探针测试座;

2、适用于间距为0.5mm的BGA封装芯片;

3、紧凑的设计和较小的测试压力;

4、独特的结构避免卡球;

5、可更换限位框,高精度的定位槽和导向孔,测试准确无误;

6、根据实际测试情况,选用不同探针,可以对IC进行有锡球、无锡球不同测试;

7、人性化设计,探针可更换,便于拆卸、维护,降低测试成本;

8、进口探针、工程材料结合高精度制作设备,socket测试更稳定,使用寿命更长。



产品特点:

1、本品为下压结构合金探针测试座;

2、适用于间距为0.5mm的BGA封装芯片;

3、紧凑的设计和较小的测试压力;

4、独特的结构避免卡球;

5、可更换限位框,高精度的定位槽和导向孔,测试准确无误;

6、根据实际测试情况,选用不同探针,可以对IC进行有锡球、无锡球不同测试;

7、人性化设计,探针可更换,便于拆卸、维护,降低测试成本;

8、进口探针、工程材料结合高精度制作设备,socket测试更稳定,使用寿命更长。