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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

BGA封装系列

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定制BGA154-0.8芯片测试座-BGA芯片测试socket

BGA154-0.8芯片测试座规格参数:

芯片封装形式:BGA

芯片pin脚数:154pin

芯片厚度:1.2mm

适配芯片尺寸:11.5*13.5mm

接触介质:探针

测试座结构:下压式/OPEN TOP

测试座材料:合金+PEEK

联系工程师:电话微信同号:19925483684(韦工)

深圳谷易电子生产的BGA154-0.8芯片测试座-BGA芯片测试socket的产品简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家介绍

深圳谷易电子生产提供封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等,大量现货标准品,并支持一件定制

产品介绍:

产品名称:定制BGA154-0.8  11.5x13.5x1.20合金下压测试座

使用用途:对BGA154pin芯片进行模拟电路测试、性能测试使用,支持芯片功能性测试、芯片可靠性测试

性能参数:速率:5Gbps,温度-45~+125°C