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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

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进口测试座DFN10_0.5MM3X3-10QN50S13030_QFN10-0.5编程座烧录座

定制类型:QFN、DFN、集成模块、BGA等芯片的各种:测试座、老化座、测试治具、测试夹具、自动化设备等。
常见芯片:WIFI、互联网、传感器、车规芯片、电源芯片等。
PCB定制:可以提供通用转48pin双排针转接板、也可以根据需求定制,免费画板。
IC脚位间距:0.2、0.3、0.35、0.4、0.45、0.5、0.65、0.8、1.0、1.27、2.54mm等。
IC封装:QFN、QFP、BGA、DFN、传感器、晶振、电源芯片等(弹性结构,可兼容不同厚度)
高低温范围:常规-55°C~+180°C,更高温度可定制。
高低频率范围:常规1Ghz~5Ghz,更高频率可定制。
适用于:测试、烧录、老化、分析芯片。
使用寿命:普通测试、烧录10万次。(有更长可选用)
交期:普通交期3~5天,定制交期:7个工作日。




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(电话微信同号)

厂家介绍:

谷易电子生产进口测试座DFN10 0.5MM 3X3-10QN50S13030 QFN10-0.5编程座烧录座,同时生产其他IC测试设备

型号: 10QN50S13030品牌: Plastronics产地: 其他海外地区颜色分类: 不带板测试座 带板测试座适用场景: 老化/测试/编程/烧录封装方式: QFN/DFN/WSON10引脚间距: 0.5mm引脚数: 10个测试座类型: 翻盖式