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QFN/DFN封装系列

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QFN64-0.4芯片测试座翻盖老化座IC549-0644-008-G编程座QFN64座

发表时间：2021-09-09 16:49:22浏览量：1489【小中大】

厂家介绍：谷易电子生产QFN64-0.4芯片测试座翻盖老化座 IC549-0644-008-G编程座QFN64座，同时生产其他IC测试设备 QFN64-0.4翻盖弹片测试座产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN64的IC芯片进行...

厂家介绍：

谷易电子生产QFN64-0.4芯片测试座翻盖老化座 IC549-0644-008-G编程座QFN64座，同时生产其他IC测试设备

QFN64-0.4翻盖弹片测试座

产品简介

产品用途:编程座、测试座，对QFN64的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN64引脚间距0.4mm

测试座:QFN64-0.4

特点:采用U型顶针，接触更稳定

规格尺寸

型号:QFN-64-0.4

引脚间距(mm):0.4

脚位:64

芯片尺寸:8*8