QFN48-0.35老化座0.35间距烧录座5×5 IC测试座镀金座_概述_性能_特点_规格_应用

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QFN/DFN封装系列

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QFN48-0.35老化座0.35间距烧录座5×5 IC测试座镀金座

发表时间：2021-09-09 16:55:16浏览量：2147【小中大】

厂家介绍：谷易电子生产QFN48-0.35老化座 0.35间距烧录座 5×5 IC测试座镀金座，同时生产其他IC测试设备产品简介 A、产品用途:编程座、测试座，对QFN48的IC芯片进行老化、测试 B、适用封装:QFN48引...

厂家介绍：

谷易电子生产QFN48-0.35老化座 0.35间距烧录座 5×5 IC测试座镀金座，同时生产其他IC测试设备

产品简介

A、产品用途:编程座、测试座，对QFN48的IC芯片进行老化、测试

B、适用封装:QFN48引脚间距0.35mm

C、测试座:QFN48-0.35

D、特点:采用U型顶针，接触更稳定，寿命长，机械寿命：10W次

E、工作温度：-55℃~155℃ 电流：1A max

F、我司可提供规格书（布板图），PDF档\CAD

规格尺寸

A、型号:QFN-48-0.35

B、引脚间距(mm):0.35

C、脚位:48

D、芯片尺寸:5*5mm

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