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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

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QFN48-0.35老化座0.35间距烧录座5×5 IC测试座镀金座

规格尺寸

A、型号:QFN-48-0.35

B、引脚间距(mm):0.35

C、脚位:48

D、芯片尺寸:5*5mm

订购热线:18824309157

厂家介绍:

谷易电子生产QFN48-0.35老化座 0.35间距烧录座 5×5 IC测试座 镀金座,同时生产其他IC测试设备

产品简介


A、产品用途:编程座、测试座,对QFN48的IC芯片进行老化、测试

B、适用封装:QFN48引脚间距0.35mm

C、测试座:QFN48-0.35

D、特点:采用U型顶针,接触更稳定,寿命长,机械寿命:10W次

E、工作温度:-55℃~155℃    电流:1A max

F、我司可提供规格书(布板图),PDF档\CAD

 规格尺寸

A、型号:QFN-48-0.35

B、引脚间距(mm):0.35

C、脚位:48

D、芯片尺寸:5*5mm