深圳谷易电子生产的QFN28分离式手自一体测试座socket—QFN芯片测试夹具_简介_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFN/DFN封装系列

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QFN28分离式手自一体测试座socket—QFN芯片测试夹具

QFN28pin芯片测试夹具规格参数：
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：28pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：7*7mm
芯片厚度：0.75mm

深圳谷易电子生产的QFN28分离式手自一体测试座socket—QFN芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用QFN28pin芯片测试环境：芯片模拟电路测试、烧录、老化，该款支持ATE自动化测试，手自一体测试座

QFN28pin芯片测试座产品简介：

芯片测试频率：9.2Mhz

芯片测试电流：6mA

芯片测试温度：-45°~+125°，持续时长：满足1000小时

芯片测试夹具结构：分离式手自一体

芯片测试socket材料：PEEK

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