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深圳市谷易电子有限公司
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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座
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深圳谷易电子生产的DFN8pin-3.3X3.3mm(0.65mm) 转DIP8pin镀金高温老化座
测试座型号 : DFN3.3X3.3-8LA(0.65)翻盖式
IC整体宽度 : 3.3 x 3.3mm
IC 间 距 : 0.65mm
IC 封 装 : DFN3.3X3.3-8LA(0.65)
高低温范围 : -45℃ ~ +175℃
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