深圳谷易电子生产的DFN8pin-5X6mm(1.27mm)转DIP8pin开尔文镀金老化测试座_概述_性能_特点_规格_应用_生产厂家

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QFN/DFN封装系列

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DFN8pin-5X6mm(1.27mm)转DIP8pin开尔文镀金老化测试座

发表时间：2021-05-12 15:38:07浏览量：1989【小中大】

深圳谷易电子生产的DFN8pin-5X6mm(1.27mm)转DIP8pin开尔文镀金老化测试座

测试座型号 : DFN5X6-8L(1.27)翻盖式开尔文

IC本体尺寸 : 6.0x5.0
IC含脚尺寸 : 8mm
IC 间距 : 1.27mm
IC 封装 : DFN
高低温范围 : -45℃ ~ +175℃

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