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深圳市谷易电子有限公司
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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座
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深圳谷易电子生产的DFN8pin-5X6mm(1.27mm)转DIP8pin开尔文镀金老化测试座
测试座型号 : DFN5X6-8L(1.27)翻盖式开尔文
IC本体尺寸 : 6.0x5.0
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