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深圳市谷易电子有限公司
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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座
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定制类型:QFN、DFN、集成模块、BGA等芯片的各种:测试座、老化座、测试治具、测试夹具、自动化设备等。
常见芯片:WIFI、互联网、传感器、车规芯片、电源芯片等。
PCB定制:可以提供通用转48pin双排针转接板、也可以根据需求定制,免费画板。
IC脚位间距:0.2、0.3、0.35、0.4、0.45、0.5、0.65、0.8、1.0、1.27、2.54mm等。
IC封装:QFN、QFP、BGA、DFN、传感器、晶振、电源芯片等(弹性结构,可兼容不同厚度)
高低温范围:常规-55°C~+180°C,更高温度可定制。
高低频率范围:常规1Ghz~5Ghz,更高频率可定制。
适用于:测试、烧录、老化、分析芯片。
使用寿命:普通测试、烧录10万次。(有更长可选用)
交期:普通交期3~5天,定制交期:7个工作日。
※采用ITE IT1327主控芯片,IT1327是一个USB 2.0多分区的SD / MMC卡读卡器控制器,T1327内置SD / MMC卡电源供应器,并集成5V到3.3V稳压器,高速USB 2.0接口,向下兼容USB 1.1。集成的USB 2.0收发器宏单元接口(UTMI)和串行接口引擎(SIE)。 支持总线供电模式
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LGDDR221翻盖弹片转USB测试座
1. 直接通过USB接口连到电脑上通过软件可以刷国产机(分不了区,加密IC无效),客户可以自行到网上下载。
2. 直接通过USB接口连到电脑上可当U盘用,把芯片放到座子里面,就是U盘,可以实现U盘的功能,比如测试IC的好坏,容量,格式化等等,U盘有什么功能它就带什么功能。方便快捷。
产品特点
※采用ITE IT1327主控芯片,IT1327是一个USB 2.0多分区的SD / MMC卡读卡器控制器,T1327内置SD / MMC卡电源供应器,并集成5V到3.3V稳压器,高速USB 2.0接口,向下兼容USB 1.1。集成的USB 2.0收发器宏单元接口(UTMI)和串行接口引擎(SIE)。 支持总线供电模式
EMCP221 IC引脚定义图
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