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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

EMCP/EMMC/UFS系列

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eMMC_U盘探针测试夹具eMMC153-169测试座eMMC_socket编程烧录座

发表时间:2021-08-05 15:04:31浏览量:1175


产品特点:
※ socket兼容有球无球测试,IC限位框可更换,相比同类产品具有使用寿命长、通用性广;
※ 支持热拔插和电源单独开关,支持通过USB接口或通过连线与板上排针对应PIN相连接进行测试;
※ 同时兼容:东芝、三星、海力士、Intel 、Sandisk(新帝) 等封装的 4BIT 、8BIT eMMC 闪存
※ 同时兼容 169-FBGA 153-FBGA ;
※ 探针采用进口铍铜镀金,可更换可维修,大大节约了成本;
※ 接触模块采用整体结构,减少重复定位问题,保证其接触点与IC PAD精准对位,一次测试通过率高;
※ 采用扎针结构保证接触良好,socket与PCBA采用定位孔结合方便更换;
※ 采用翻盖式式结构,更加便于手动化测试,操作方便简单;
※ 压IC采用模具整体成型加弹簧自适应结构,保证不同厚度的IC不需要任何调整即可其接触良好,所
测试IC通用性广(厚度0.6-2.0MM 范围都可测试)
※ 结构采用注塑成形,定位精确,取放IC方便,工作效率更高;
二测试
(1) 把IC按方向平放入SOCKET内。
(2) 把Usb线插到电脑上Usb接口,打开板上的电源开关,选择相应的测试程式