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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

EMCP/EMMC/UFS系列

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EMMC-EMCP字库U盘编程器162-186脚字库读写编程座(EMMC169-153

定制类型:QFN、DFN、集成模块、BGA等芯片的各种:测试座、老化座、测试治具、测试夹具、自动化设备等。
常见芯片:WIFI、互联网、传感器、车规芯片、电源芯片等。
PCB定制:可以提供通用转48pin双排针转接板、也可以根据需求定制,免费画板。
IC脚位间距:0.2、0.3、0.35、0.4、0.45、0.5、0.65、0.8、1.0、1.27、2.54mm等。
IC封装:QFN、QFP、BGA、DFN、传感器、晶振、电源芯片等(弹性结构,可兼容不同厚度)
高低温范围:常规-55°C~+180°C,更高温度可定制。
高低频率范围:常规1Ghz~5Ghz,更高频率可定制。
适用于:测试、烧录、老化、分析芯片。
使用寿命:普通测试、烧录10万次。(有更长可选用)
交期:普通交期3~5天,定制交期:7个工作日。




规格尺寸


型号:EMCP186/162

引脚间距(mm):0.5

老化座装针PIN数:17

芯片尺寸:12*16 12*18 14*18 11.5*13

订购热线:19921126284

(电话微信同号)

产品简介

产品用途:编程座、测试座,对EMMC162/186的IC芯片进行测试、读写

测试方法 1.选择和IC匹配的限位框,把IC按方向平放入SOCKET内

2.把USB线插到电脑上USB接口,打开座子的电源开关,选择相应的测试程序
适用封装:EMCP186/162 引脚间距0.5mm
测试座:EMCP186/162-0.5

特点:

1、采 用ITE IT1327主控芯片,IT1327是一个USB 2.0多分区的SD/MMC卡读卡器控制器,T1327内置SD/MMC 卡电源供应器,并集成5V到3.3V稳压器,高速USB2.0接口,向下兼容USB1.1。集成的USB 2.0收发器宏单元接口(UTMI)和串行接口引擎(SIE)。支持总线供电模式。

2、同事兼容:东芝、三星、海力士、Intel、Sandisk(闪迪)等所有同样封装48IT、8BIT emcp闪存记忆体

3、支持热拔插和电源单独开关,支持通过USB接口或通过连线与板上排针对应PIN相连接进行测试

4、采用浮板结构,定位精准,取放IC方便,工作效率更高

规格尺寸

型号:EMCP186/162

引脚间距(mm):0.5

老化座装针PIN数:17

芯片尺寸:12*16 12*18 14*18 11.5*13