深圳谷易电子生产的QFP64pin芯片探针老化座socket—OTQ芯片测试夹具_简介_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFP封装系列

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QFP64pin芯片探针老化座socket—OTQ芯片测试夹具

QFP64pin芯片老化测试夹具规格参数：
芯片封装形式：QFP/OTQ
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：12*12mm

深圳谷易电子生产的QFP64pin芯片探针老化座socket—OTQ芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用QFP64pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片HAST测试

QFP64pin芯片老化测试座产品简介：

芯片老化测试温度：-45°~+155°，老化时长满足单次1000hrs

相对湿度：85%

芯片老化夹具结构：翻盖式

芯片老化座材料：合金