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深圳市谷易电子有限公司
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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座
深圳谷易电子生产的QFP64pin芯片探针老化座socket—OTQ芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用QFP64pin芯片测试环境:老化、测试、烧录,支持芯片HAST测试
QFP64pin芯片老化测试座产品简介:
芯片老化测试温度:-45°~+155°,老化时长满足单次1000hrs
相对湿度:85%
芯片老化夹具结构:翻盖式
芯片老化座材料:合金
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