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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

QFP封装系列

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CQFP144pin芯片测试座socket—QFP芯片测试夹具

CQFP144pin芯片测试座sockeet规格参数:
支持芯片封装形式:CQFP/QFP
芯片引脚:144pin
芯片引脚间距:0.5mm
适配芯片尺寸:24*24mm

深圳谷易电子生产的CQFP144pin芯片测试座socket—QFP芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用CQFP/QFP144pin芯片测试环境:芯片模拟电路测试、烧录、老化

CQFP144pin芯片测试夹具产品简介:

芯片测试电流:400mA

芯片测试频率:600Mhz

芯片测试温度:+125°,测试时长96小时为一恶搞循环,部分需要做-55°持续5小时

芯片测试座socket结构:旋钮翻盖式

芯片测试夹具材料:PEI