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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

定制IC test socket

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QFN48射频IC测试座 定制QFN48socket QFN48合金探针测试座

定制类型:QFN、DFN、集成模块、BGA等芯片的各种:测试座、老化座、测试治具、测试夹具、自动化设备等。
常见芯片:WIFI、互联网、传感器、车规芯片、电源芯片等。
PCB定制:可以提供通用转48pin双排针转接板、也可以根据需求定制,免费画板。
IC脚位间距:0.2、0.3、0.35、0.4、0.45、0.5、0.65、0.8、1.0、1.27、2.54mm等。
IC封装:QFN、QFP、BGA、DFN、传感器、晶振、电源芯片等(弹性结构,可兼容不同厚度)
高低温范围:常规-55°C~+180°C,更高温度可定制。
高低频率范围:常规1Ghz~5Ghz,更高频率可定制。
适用于:测试、烧录、老化、分析芯片。
使用寿命:普通测试、烧录10万次。(有更长可选用)
交期:普通交期3~5天,定制交期:7个工作日。



适用于IC设计公司作芯片的样片功能验证使用


芯片封装参数:QFN48  间距0.5mm  尺寸7*7mm
根据客户要求,达到3GHZ频率,电流200mA

采用进口探针,测试寿命可达8-10W次


订购热线:13823541217

(电话微信同号)

※ 采用手动翻盖/双扣式结构,操作方便;

※ 上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;

※ 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,而不会损伤锡球;

※ 高精度的定位槽和导向孔,保证IC定位精确,测试效率高;

※ 测试频率可达9.3GHz;

※ 用途:集成电路应用功能验证测试;

※ 可根据用户要求定做各种阵列的socket

※ 有翻盖式结构和双扣结构两种方式可供选择,操作方便;

※ 可根据用户要求定做各种阵列的socket



适用于IC设计公司作芯片的样片功能验证使用

芯片封装参数:QFN48  间距0.5mm  尺寸7*7mm
根据客户要求,达到3GHZ频率,电流200mA

采用进口探针,测试寿命可达8-10W次