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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

定制IC test socket

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LPDDR240合金翻盖探针芯片测试座 _DDR芯片测试治具

定制类型:QFN、DFN、集成模块、BGA等芯片的各种:测试座、老化座、测试治具、测试夹具、自动化设备等。
常见芯片:WIFI、互联网、传感器、车规芯片、电源芯片等。
PCB定制:可以提供通用转48pin双排针转接板、也可以根据需求定制,免费画板。
IC脚位间距:0.2、0.3、0.35、0.4、0.45、0.5、0.65、0.8、1.0、1.27、2.54mm等。
IC封装:QFN、QFP、BGA、DFN、传感器、晶振、电源芯片等(弹性结构,可兼容不同厚度)
高低温范围:常规-55°C~+180°C,更高温度可定制。
高低频率范围:常规1Ghz~5Ghz,更高频率可定制。
适用于:测试、烧录、老化、分析芯片。
使用寿命:普通测试、烧录10万次。(有更长可选用)
交期:普通交期3~5天,定制交期:7个工作日。



产品参数:

1、LPDDR2  240 Ball  pitch:0.5

2、频率F:超过1600Mhz

3、适用于:三星、海力士、现代、华邦、美光、等各类内存颗粒

4、Socket材料:优质铝合金、PPS工程塑料(耐磨性、抗干扰性信强)

5、PCBA板材料:FR4、镀金焊盘30mil,导电性、抗氧化性强

6、材料:探针:

针管:磷铜

针头:铍铜

弹簧:琴钢丝

电气性能:

额定电流:1.5A

接触阻抗:50 mohm(最大工作行程状态下)

机械性能:

压力:28g±20%(工作行程内)

测试寿命:10 万次


订购热线:19921126284
(电话微信同号)





工厂介绍 
生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector/IMU socket等。

谷易电子生产LPDDR240合金翻盖探针芯片测试座 _DDR芯片测试治具,同时还

产品参数:

1、LPDDR2  240 Ball  pitch:0.5

2、频率F:超过1600Mhz

3、适用于:三星、海力士、现代、华邦、美光、等各类内存颗粒

4、Socket材料:优质铝合金、PPS工程塑料(耐磨性、抗干扰性信强)

5、PCBA板材料:FR4、镀金焊盘30mil,导电性、抗氧化性强

6、材料:探针:

针管:磷铜

针头:铍铜

弹簧:琴钢丝

电气性能:

额定电流:1.5A

接触阻抗:50 mohm(最大工作行程状态下)

机械性能:

压力:28g±20%(工作行程内)

测试寿命:10 万次


规格:
1、LPDDR2  220 Ball
2、频率F:超过1600Mhz
3、适用于:三星、海力士、现代、华邦、镁光、等各类内存颗粒

1、无需客户lay板,直接采用客户提供的产品板,验证准确,最高主频率可以5GHZ;


2、socket只要四颗螺丝便可拆下,探针可以跟换,维护简单方便;


3、白色限位框,可以更换,适用于不同尺寸LPDDR颗粒;


4、灵活通用,所有LPDDR Socket可以通用移植到任何产品上测试,大大提高了产品 的重复利用率,降低了客户的使用成本;


5、产品交期大大缩短,最快4个小时交货;


6、socket为标准设计,大大降低了加工成本,治具价格只有以前的一半;


7、体积较小,携带方便;