深圳谷易电子生产的模块PLCC48pin封装芯片探针测试座_概述_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

定制IC test socket

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模块PLCC48pin封装芯片探针测试座

PLCC48pin模块测试座规格参数：

模块封装类型：PLCC

模块引脚：48pin

模块引脚间距：1.0mm

模块尺寸：16.4×16.4mm

模块厚度：4.0mm

深圳谷易电子生产的PLCC48pin封装模块探针测试座

PLCC测试座、CLCC测试座、LCC测试座

PLCC48pin模块测试要求：

测试温度：-50°~+100°，持续时长：1000小时，要求：做温循

测试频率：1Mhz，单通道速率3Gbps，最高10Gbps

测试电流：500毫安内

测试座材料：合金

测试座结构：翻盖式