深圳谷易电子生产的LCC24pin封装芯片探针测试座socket_概述_性能_特点_规格_应用

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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

定制IC test socket

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LCC24pin封装芯片探针测试座socket

LCC24pin芯片测试座规格参数

芯片封装类型：LCC

芯片引脚间距：1.27mm

芯片尺寸：11×11mm

芯片厚度：3.2mm

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LCC芯片测试座、LCC芯片老化座、LCC芯片烧录座

LCC24pin芯片测试条件要求：

测试频率：100kHZ

测试电流：0.1A

测试温度：-40°~+85°

测试座结构：翻盖式

测试座材料：合金