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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

SOT封装系列

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SOT89-3L器件测试座socket—SOT测试夹具

SOT89系列-3L器件测试夹具规格参数:
器件封装形式:SOT89
器件引脚:3pin
器件引脚间距:1.5mm
期间含引脚尺寸:4*4.5mm

深圳谷易电子生产的SOT89-3L器件测试座socket—SOT测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用SOT89-3L器件测试环境:老化、测试、烧录

SOT89器件测试座socket产品简介:

器件测试温度:-40°~+125°

器件测试电流:单pin满足1.5A

器件测试频率:300Mhz

SOT89器件测试座结构:翻盖式

器件测试夹具材料:合金