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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

LCC/CLCC封装

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LCC32pin芯片测试座socket—ATE自动化测试夹具

LCC32pin芯片ATE自动化测试座规格参数:
芯片封装形式:LCC
芯片引脚:32pin
芯片引脚间距:1.27mm
适配芯片尺寸:14*11.5mm
接触介质:探针
测试座结构:下压式(ATE自动化测试)
测试座材料:PEEK

谷易电子生产提供封装种类齐全BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/TO/LGA/LCC/DDR/FPC/connector/IMU socket等,大量现货标准品,并支持一件定制。

深圳谷易电子生产的LCC32pin芯片测试座socket—ATE自动化测试夹具的产品简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家介绍

产品介绍:
产品名称:LCC32pin-1.27mm-14x11.5mmATE自动化测试座
使用用途:对LCC32pin芯片进行模拟电路测试、性能测试用,支持芯片功能性测试、芯片可靠性测试
性能参数:
1、工作速率:<10Mbps
2、单pin电流:≤500mA
3、接触电阻:≤100mΩ
4、工作环境温度:-10℃~70℃
5、寿命≥10000次
6、工作电压:0~5V