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QFN44-0.4芯片测试座_下压老化座镀金IC编程座_NP506_QFN44座

发表时间：2021-08-27 12:17:38浏览量：881【小中大】

工厂介绍：谷易电子生产QFN44-0.4芯片测试座_下压老化座镀金IC编程座_NP506_QFN44座，同时生产其他IC老化测试夹具治具产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN44的IC芯片进行烧写、测试适用封装:Q...

工厂介绍：

谷易电子生产QFN44-0.4芯片测试座_下压老化座镀金IC编程座_NP506_QFN44座，同时生产其他IC老化测试夹具治具

产品简介

产品用途:编程座、测试座，对QFN44的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN44引脚间距0.4mm

测试座:QFN44-0.4

特点:采用U型顶针，接触更稳定

规格尺寸

型号:QFN-44-0.4

引脚间距(mm):0.4

脚位:44

芯片尺寸:6*6