QFN32-0.5芯片测试座_翻盖弹片老化座_编程座_概述_性能_特点_规格_应用

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QFN32-0.5芯片测试座_翻盖弹片老化座_编程座

发表时间：2021-08-27 12:29:48浏览量：1311【小中大】

工厂介绍：谷易电子生产QFN32-0.5芯片测试座_翻盖弹片老化座_编程座，同时生产其他IC老化测试夹具治具产品简介产品用途：编程座、测试座，对QFN32的IC芯片进行烧写、测试适用封装：QFN32引脚间距0.5m...

工厂介绍：

谷易电子生产QFN32-0.5芯片测试座_翻盖弹片老化座_编程座，同时生产其他IC老化测试夹具治具

产品简介

产品用途：编程座、测试座，对QFN32的IC芯片进行烧写、测试

适用封装：QFN32引脚间距0.5mm

测试座：QFN32-0.5

特点：底部引出引脚为不规则排列

规格尺寸
QFN32编程座/测试座适用芯片详细规格，以及适配座外形尺寸：

型号：QFN-32-0.5，引脚间距(mm)：0.5，脚位：32，芯片尺寸：5*5