QFN64-0.4芯片测试座_翻盖老化座_IC549-0644-008-G烧录座_概述_性能_特点_规格_应用

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QFN64-0.4芯片测试座_翻盖老化座_IC549-0644-008-G烧录座

发表时间：2021-08-27 14:56:23浏览量：875【小中大】

工厂介绍：谷易电子生产QFN64-0.4芯片测试座_翻盖老化座_IC549-0644-008-G烧录座，同时生产其他IC老化测试夹具治具封装：QFN-64-04 尺寸：8*8 型号：IC549-0644-008-G

工厂介绍：

谷易电子生产QFN64-0.4芯片测试座_翻盖老化座_IC549-0644-008-G烧录座，同时生产其他IC老化测试夹具治具

封装：QFN-64-04 尺寸：8*8

型号：IC549-0644-008-G