QFN36-0.4芯片测试座_下压IC老化座_NP506-036编程座_概述_性能_特点_规格_应用

深圳市谷易电子有限公司欢迎您！

热搜关键词： 微针模组、BGA、DDR、SOP/TSOP、QFP、TO封装系列

深圳市谷易电子有限公司

联系电话：13823541376

联系人：兰小姐

邮箱：sales@goodesocket.com

主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

公司新闻

当前位置：首页 > 新闻动态 > 公司新闻

QFN36-0.4芯片测试座_下压IC老化座_NP506-036编程座

发表时间：2021-08-27 15:15:34浏览量：1217【小中大】

工厂介绍：谷易电子生产QFN36-0.4芯片测试座_下压IC老化座_NP506-036编程座，同时生产其他IC老化测试夹具治具产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN36的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN36引脚...

工厂介绍：

谷易电子生产QFN36-0.4芯片测试座_下压IC老化座_NP506-036编程座，同时生产其他IC老化测试夹具治具

产品简介

产品用途:编程座、测试座，对QFN36的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN36引脚间距0.4mm

测试座:QFN36-0.4

特点:采用U型顶针，接触更稳定

规格尺寸

型号:QFN-36-0.4

引脚间距(mm):0.4

脚位:36

芯片尺寸:5*5