QFN24-0.4下压弹片老化座_IC测试座NP506-024-024-SC-G_概述_性能_特点_规格_应用

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QFN24-0.4下压弹片老化座_IC测试座NP506-024-024-SC-G

发表时间：2021-08-30 14:34:13浏览量：1383【小中大】

工厂介绍：谷易电子生产QFN24-0.4下压弹片老化座_IC测试座NP506-024-024-SC-G，同时生产其他IC老化测试夹具治具产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN24的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN2...

工厂介绍：

谷易电子生产QFN24-0.4下压弹片老化座_IC测试座NP506-024-024-SC-G，同时生产其他IC老化测试夹具治具

产品简介

产品用途:编程座、测试座，对QFN24的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN24引脚间距0.4mm

测试座:QFN24-0.4

特点:采用U型顶针，接触更稳定

规格尺寸

型号:QFN-24-0.4

引脚间距(mm):0.4

脚位:24

芯片尺寸:4*4