谷易电子生产QFN40老化测试座芯片尺寸5×5mm下压老化座，同时生产其他IC老化测试夹具治具

产品简介

产品用途:编程座、测试座，对QFN40的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN40引脚间距0.4mm

测试座:QFN40-0.4

特点:采用U型顶针，接触更稳定

规格尺寸

型号:QFN-40-0.4

引脚间距(mm):0.4

脚位:40

芯片尺寸:5*5