深圳市谷易电子有限公司欢迎您!

深圳市谷易电子有限公司

“谷”聚天下之检测
“易”通世界之雄芯
谷易电子

全国服务热线:

13823541376

新闻动态News Center

深圳市谷易电子有限公司

联系电话:13823541376

联系人:兰小姐

邮箱:sales@goodesocket.com

主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

公司新闻

当前位置:首页 > 新闻动态 > 公司新闻

QFN40老化测试座芯片尺寸5×5mm下压老化座

发表时间:2021-08-31 16:33:11浏览量:213

工厂介绍 谷易电子生产QFN40老化测试座芯片尺寸5×5mm下压老化座,同时生产其他IC老化测试夹具治具 产品简介 产品用途:编程座、测试座,对QFN40的IC芯片进行烧写、测试 适用封装:QFN40引脚间距0.4mm ...
工厂介绍

谷易电子生产QFN40老化测试座芯片尺寸5×5mm下压老化座,同时生产其他IC老化测试夹具治具

产品简介

产品用途:编程座、测试座,对QFN40的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN40引脚间距0.4mm

测试座:QFN40-0.4

特点:采用U型顶针,接触更稳定

规格尺寸

型号:QFN-40-0.4

引脚间距(mm):0.4

脚位:40

芯片尺寸:5*5