威布尔分布是可靠性数据分析和数理统计中最有效的表现方法，对样品数量有一定的要求，样品数量太少，随机性太强，结果不可信。当然，样本越多，可靠性测试的时间和成本就会急剧增加，威布尔分布中测试结果的随机性和样本数。同一批测试的6~12个样品数量是合适的。

在实际测试中，不可能保证同一批测试的所有样品的测试条件完全相同，使测试数据具有一定的分散性。测量延迟还会导致实际测量的最大温度误差，使设备的实际寿命较低。在评估和比较可靠性寿命时，需要考虑延迟时间造成的误差，并通过寿命模型进行修正。

1200V,25A的TO-247设备功率循环测试条件，同时选取6个设备进行测试。所有的测试条件都是ton=1s,toff=2s,VGE=15V,IL=42.5A,ΔTj≈90K,Tjmax≈150℃,tMD=100µs，通过有限元仿真修正测量延迟引起的结温测量误差约为32.6K。电源循环的原始寿命。所有设备都表现为键合线故障（饱和压降）VCE增加5%)。由于测试电流，原始数据与标准寿命模型的差异较大，值较小。(@42.5A)电流越大，键合线自发热越严重，热应力越大，使用寿命越小。

为了反映寿命比较的公平性，通常选择设备的额定电流(@25A)修正后，修正后的寿命相对接近寿命模型。在谷易电子测试座socket的行业运用中，SOP测试座、BGA测试座，TO247测试座，老化测试座，模块测试座，器件测试座的反馈结构都比较理想，测试良率也比较高。