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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座
发表时间:2023-02-03 16:33:19浏览量:459【小中大】
蝶形封装测试座、蝶形管壳封装测试座规格参数
PIN脚:26pin
引脚间距:1.4mm
尺寸:25.5×13×5mm
26pin蝶形封装测试要求:
测试温度:常温
测试电流:每单PIN在1A以内
测试频率:2.5G
测试座材料:合金
测试座结构:翻盖式
在谷易电子众多蝶形封装管壳芯片测试座中,如52pin蝶形管壳器件测试双扣测试座、44pin蝶形模块测试座、蝶形金属封装壳体IC测试座等等,常见的引脚间距在0.4mm/0.8mm/1.4mm,该款蝶形封装测试部分需要走高速信号,测试频率在1GHZ-5GHZ都有,在对接的时候一定要注明,也可以支持加工定制。
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