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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

BGA封装系列

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BGA152/132pin-1.0mm翻盖探针老化座socket

发表时间:2021-05-08 15:40:20浏览量:1324

深圳谷易电子生产的BGA152/132pin-1.0mm翻盖探针老化座socket

产品简介

一、产品用途:BGA152/132探针测试座,对BGA152/BGA132的芯片进行测试

二、适用封装:BGA152/BGA132 引脚间距1.0mm

三、BGA152/132翻盖探针老化座:BGA152-1.0

四、有球无球兼容测试,测试稳定

五、特点:探针采用进口的,电流能过3A、寿命达15万次以上、测试传输速度快。翻盖换取芯片方便,操作简单