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主营产品:定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

EMCP/EMMC/UFS系列

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EMMC100下压转USB测试座BGA100老化座nand_flash烧录器清空座

发表时间:2021-08-06 15:20:41浏览量:1173

产品特点: ※ 采用ITE IT1327主控芯片,IT1327是一个USB 2.0多分区的SD / MMC卡读卡器控制器,T1327内置SD / MMC卡电源供应器,并集成5V到3.3V稳压器,高速USB 2.0接口,向下兼容USB 1.1...
产品特点:

※ 采用ITE IT1327主控芯片,IT1327是一个USB 2.0多分区的SD / MMC卡读卡器控制器,T1327内置SD / MMC卡电源供应器,并集成5V到3.3V稳压器,高速USB 2.0接口,向下兼容USB 1.1。 集成的USB 2.0收发器宏单元接口(UTMI)和串行接口引擎(SIE)。 支持总线供电模式;
※ socket兼容有球无球测试,IC限位框可更换,相比同类产品具有使用寿命长、通用性广;
※ 支持热拔插和电源单独开关,支持通过USB接口或通过连线与板上排针对应PIN相连接进行测试;
※ 弹片采用进口铍铜经高精度模具冲压成形,头形仿探针设计,后期加硬、加厚镀金层处理,从而保证产品 稳定性及耐用性;
※ 采用通孔焊接结构保证接触良好,socket与PCBA采用定位孔结合方便更换;
※ 采用下压式结构,更加便于自动化测试,操作方便简单;
※ 采用浮板结构,定位精确,取放IC方便,工作效率更高;
※ 烧录程序时请配合相关的烧录器件和软件;
二、测试程序:
(1) 把IC按方向平放入SOCKET内。
(2) 把Usb线插到电脑上Usb接口,打开板上的电源开关,选择相应的测试程式
(3) 在格式化存储体时提示写保护提示时请根据不同芯片需要把J6的SD_WP、SD_CD、J5的REST_N跳帽插上。