TO263-7L转DIP7老化测试座带板镀金老化座烧录夹具插座1.27_概述_性能_特点_规格_应用

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TO263-7L转DIP7老化测试座带板镀金老化座烧录夹具插座1.27

发表时间：2021-07-07 15:07:26浏览量：2136【小中大】

TO263-7L转DIP7老化测试座带板镀金老化座烧录夹具插座1.27直销测试座型号 : TO263-7L翻盖式 IC本体尺寸 : 8.9mm、 IC含脚尺寸 : 15.2mm IC 间距 : 1.27mm IC 封装 : TO263 高...

TO263-7L转DIP7老化测试座带板镀金老化座烧录夹具插座1.27直销

测试座型号 : TO263-7L翻盖式
IC本体尺寸 : 8.9mm、
IC含脚尺寸 : 15.2mm
IC 间距 : 1.27mm
IC 封装 : TO263

高低温范围 : -45℃ ~ +175℃