BGA63-0.8翻盖探针转48测试座BGA63-0.8烧录座U盘转DIP48_概述_性能_特点_规格_应用

深圳市谷易电子有限公司欢迎您！

热搜关键词： 微针模组、BGA、DDR、SOP/TSOP、QFP、TO封装系列

深圳市谷易电子有限公司

联系电话：13823541376

联系人：兰小姐

邮箱：sales@goodesocket.com

主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

SSD-flash测试夹具

当前位置：首页 > 产品中心 > SSD-flash测试夹具

BGA63-0.8翻盖探针转48测试座BGA63-0.8烧录座U盘转DIP48

发表时间：2021-08-17 11:35:40浏览量：1187【小中大】

BGA63探针测试座转DIP48 flash量产测试治具翻盖式兼容多尺寸（9X11MM）(13X10.5MM)

厂家介绍
谷易电子生产BGA63-0.8翻盖探针转48测试座BGA63-0.8烧录座U盘转DIP48，同时生产其他IC测试夹具治具

BGA63探针测试座转DIP48 flash量产测试治具翻盖式

兼容多尺寸

（9X11MM）(13X10.5MM)