晶振7050-4L转DIP老化测试座带板镀金SMD-4老化烧录座_概述_性能_特点_规格_应用

深圳市谷易电子有限公司欢迎您！

热搜关键词： 微针模组、BGA、DDR、SOP/TSOP、QFP、TO封装系列

深圳市谷易电子有限公司

联系电话：13823541376

联系人：兰小姐

邮箱：sales@goodesocket.com

主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座

晶振老化测试座

当前位置：首页 > 产品中心 > 晶振老化测试座

晶振7050-4L转DIP老化测试座带板镀金SMD-4老化烧录座

发表时间：2021-07-07 17:47:19浏览量：1216【小中大】

测试座型号 : SMD7X5-4L测试座（晶振7050-4PIN测试座） IC实体尺寸 : 7 mmx 5mm IC 厚度 : 0.9mm IC 封装 : SMD7X5-4L 高低温范围 : -55℃ ~ +200℃

测试座型号 : SMD7X5-4L测试座（晶振7050-4PIN测试座）
IC实体尺寸 : 7 mmx 5mm
IC 厚度 : 0.9mm
IC 封装 : SMD7X5-4L

高低温范围 : -55℃ ~ +200℃