适用自动化测试座QFN16下压弹片老化座0.5mm3-3高温烧录座编程座_概述_性能_特点_规格_应用

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晶振老化测试座

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适用自动化测试座QFN16下压弹片老化座0.5mm3-3高温烧录座编程座

发表时间：2021-07-07 18:00:22浏览量：1804【小中大】

产品简介 A、产品用途：编程座、测试座、老化座对QFN16的IC芯片进行烧写、测试 B、适用封装：QFN16 （3*3）-0.5 C、测试座：QFN16-0.5 新结构下压弹片老化座 D、我司可提供规格书（布板图），PD...

产品简介

A、产品用途：编程座、测试座、老化座对QFN16的IC芯片进行烧写、测试

B、适用封装：QFN16 （3*3）-0.5

C、测试座：QFN16-0.5 新结构下压弹片老化座

D、我司可提供规格书（布板图），PDF档\CAD

规格尺寸

A、QFN16编程座/测试座适用芯片详细规格，以及适配座外形尺寸：

B、型号:QFN-16-0.5老化座

C、引脚间距(mm):0.5

D、脚位:16

E、芯片尺寸:3*3mm

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