开模3225_4pin晶振探针老化座_crystal socket测试座双面弹_概述_性能_特点_规格_应用

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晶振老化测试座

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开模3225_4pin晶振探针老化座_crystal socket测试座双面弹

发表时间：2021-07-07 18:04:51浏览量：1932【小中大】

3.2*2.5-4PIN晶振探针老化座产品简介 A、产品用途:老化座、测试座，对3225（3.2*2.5）的晶振进行高低温老化测试 B、适用封装: 3225（3.2*2.5）-4PIN晶振 C、探针结构，接触更稳定、体积小。 D、采用特殊的工...

3.2*2.5-4PIN晶振探针老化座

产品简介

A、产品用途:老化座、测试座，对3225（3.2*2.5）的晶振进行高低温老化测试

B、适用封装: 3225（3.2*2.5）-4PIN晶振

C、探针结构，接触更稳定、体积小。

D、采用特殊的工程塑胶，强度高、寿命长、绝缘性好

E、镀金层加厚，触点加厚电镀，超低接触阻抗、高可靠度，使用寿命（翻盖结构20000次）

F、我司可提供规格书（布板图）资料，PDF档\CAD档

规格尺寸

A、型号: 3225（3.2×2.5mm）-4PIN

B、脚位:4

C、芯片尺寸:3.2×2.5mm

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