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晶振老化测试座

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晶振5032一拖16工位测试座

发表时间:2023-08-15 11:27:17浏览量:408

深圳谷易电子生产的晶振5032一拖16工位测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍 适用测试环境:老化、测试、烧录 5032晶振测试座一拖16工位测试座产品简介: 高低温测试:-45°~+75° 测试电流:小于...

深圳谷易电子生产的晶振5032一拖16工位测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用测试环境:老化、测试、烧录

5032晶振测试座一拖16工位测试座产品简介:

高低温测试:-45°~+75°

测试电流:小于200mA

测试座结构:翻盖式

测试座材料:合金

采用一拖16工位