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深圳市谷易电子有限公司
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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座
发表时间：2024-08-20 11:03:38浏览量：627【小中大】
深圳谷易电子生产的晶振2016-4L测试座socket—晶振老化测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用于晶振2016-4L测试环境：老化、测试，晶振温循测试
晶振2016-4L测试夹具产品简介：
晶振测试温度：-55°~+145°高低温循环测试，持续时长：10小时
晶振测试座结构：翻盖式
晶振测试夹具材料：PEI
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