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深圳市谷易电子有限公司
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主营产品：定制测试座、老化测试座、弹片微针模组、memory测试座、测试夹具、BGA老化测试、QFN老化测试、Flash闪存测试、编程烧录座
发表时间：2024-10-15 10:51:23浏览量：533【小中大】
深圳谷易电子生产的3225-8Pin晶振老炼座socket—晶振老化测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用3225系列晶振测试环境：老炼、测试、烧录，老化功能测试。
3225-8pin晶振老化测试座产品简介：
晶振测试频率：单pin过3Ghz@-1db
晶振测试电流：单pin小于500mA
老炼测试要求：需要兼容HTOL和HAST测试：125°*1000小时，双85°的HAST*1000小时
晶振老化座结构：翻盖式
晶振老炼夹具材料：PEI
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