深圳谷易电子生产的LCC40pin芯片测试座socket—LCC芯片测试夹具_简介_性能_特点_规格_应用

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LCC40pin芯片测试座socket—LCC芯片测试夹具

发表时间：2024-08-21 10:18:01浏览量：907【小中大】

深圳谷易电子生产的LCC40pin芯片测试座socket—LCC芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍适用于LCC40pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，芯片性能测试、芯片功能性测试、芯片可...

深圳谷易电子生产的LCC40pin芯片测试座socket—LCC芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于LCC40pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，芯片性能测试、芯片功能性测试、芯片可靠性测试

LCC40pin芯片烧录座产品简介：

芯片测试频率：300Mhz

芯片测试电流：小于100mA以内

芯片测试温度：+85°

芯片烧录座结构：下压顶窗式

芯片测试座材料：合金