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LCC40pinATE测试座—ATE自动化芯片测试夹具

发表时间：2024-08-28 10:39:35浏览量：836【小中大】

深圳谷易电子生产的LCC40pinATE测试座—ATE自动化芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍适用LCC48pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，芯片性能测试、芯片功能性测试、芯片可靠...

深圳谷易电子生产的LCC40pinATE测试座—ATE自动化芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用LCC48pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，芯片性能测试、芯片功能性测试、芯片可靠性测试

LCC48pin芯片ATE自动化测试座产品简介：

芯片测试电压：小于5V

芯片测试电流：单pin小于1A

芯片测试速率：4Gbps

芯片测试温度：-45°~+85°

芯片测试座socket结构：下压式——ATE自动化测试

芯片测试夹具材料：PEEK

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